开关元件的可靠性问题：

  　元器件可靠性问题即基本失效率的问题，这是一种随机性质的失效，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。KE拨码开关在一定的应力水平下，元器件的 失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件，包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等，应进行筛选试验，这是一种非破 坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1～2个数量级，当然筛选试验代价（时间与费用）很大，但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合算的，研制周期也 不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求：

　　①电阻在室温下按技术条件进行100％测试，剔除不合格品。

　　②普通电容器在室温下按技术条件进行100％测试，剔除不合格品。

　　③接插件按技术条件抽样检测各种参数。

　　④半导体器件按以下程序进行筛选：

　　目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试→低温测试→常温测试

　　筛选结束后应计算剔除率Q

　　Q=（n / N）×100%

　　式中：N——受试样品总数；

　　n——被剔除的样品数；

　　如果Q超过标准规定的上限值，则本批元器件全部不准上机，并按有关规定处理。

　　在符合标准规定时，KE则将筛选合格的元器件打漆点标注，然后入专用库房供装机使用。